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DFT 系列(03):ATPG、故障模型与 Coverage——别被 99% 这个数字骗了

📅 2026/9/9 15:38:47 | 华诺云谱 👁 阅读
DFT 系列(03):ATPG、故障模型与 Coverage——别被 99% 这个数字骗了
DFT 系列(03):ATPG、故障模型与 Coverage——别被 99% 这个数字骗了核心论点:没有故障模型、分母定义和分类明细的"99% coverage"没有可比性。它可能是 stuck-at test coverage,也可能排除了大量 untestable 或 X-blocked faults。本篇拆解 ATPG 的工作原理、故障模型的语义、coverage 公式里的分母陷阱,以及 pattern 仿真与 X 处理。这是全系列中"数字最容易被误读"的一篇。1. ATPG 在做什么Automatic Test Pattern Generation 的抽象目标,是为目标故障寻找一组输入/Scan 状态,使故障:在故障点被激活;沿可传播路径到达 scan cell、primary output 或 compactor;在规定的 clock/reset/test protocol 下被捕获;不被未知值或 mask 吞掉。ATPG 的输入不是只有 netlist,还包括 cell library、scan protocol、clock/reset 定义、test mode 约束、X source、black box、compression model 和 fault model。背景知识:ATPG 算法简史。
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